你知道嗎？我們每天手握的手機(jī)屏幕上，可能也隱藏著一層“看不見的涂層"。它或許與手感、反光、耐刮、抗污有關(guān)，但究竟有沒有？能不能測？怎么測？

工業(yè)物理技術(shù)團(tuán)隊(duì)決定來一次探索性實(shí)測：我們選取了幾臺市面上的常見品牌手機(jī)，嘗試用 SpecMetrix® ROI 增強(qiáng)光學(xué)干涉膜厚測量系統(tǒng)，測量手機(jī)屏幕表面可能存在的涂層厚度。這是一場從假設(shè)出發(fā)的測試，也是 SpecMetrix 在玻璃涂層領(lǐng)域的一次“好奇心驅(qū)動的實(shí)驗(yàn)"。

測試背景：我們測了什么？

本次測試由工業(yè)物理中國上海實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)執(zhí)行，選取2臺華為手機(jī)與2臺蘋果手機(jī)，使用旗下 SpecMetrix® 實(shí)驗(yàn)室版涂層厚度分析儀，采用非接觸式光學(xué)干涉技術(shù)，對每臺手機(jī)屏幕選定區(qū)域進(jìn)行了5次重復(fù)測量，測量波長為1051–1710nm，涂層折射率設(shè)定為1.55。

?? 測試結(jié)果如下圖所示（單位：μm）：

結(jié)論令人驚喜：四臺手機(jī)測得的涂層厚度均集中在 13μm左右，雖然涂層成分未知，但可以初步推測玻璃表面確實(shí)存在一層功能性涂層。

SpecMetrix® 技術(shù)原理與核心優(yōu)勢

SpecMetrix® 系統(tǒng)基于ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)，相比傳統(tǒng)白光干涉方法，具備更強(qiáng)適應(yīng)性與穩(wěn)定性，尤其適合于：

• 有色、透明、多層涂層材料

• 非接觸測量、高重復(fù)性要求的精密工藝

?? 核心技術(shù)優(yōu)勢包括：

• 非接觸 · 非破壞式測量，支持透明/有色/復(fù)合涂層

• 測量范圍廣：0.3–250μm，適配各類膜材

• 小光斑高精度：典型測量點(diǎn)為1 mm2，支持掃描平均

• 免校準(zhǔn)、高效率：自動分析干涉光譜，快速輸出絕對膜厚

• ASTM D8331標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證：全球認(rèn)可的專業(yè)測量標(biāo)準(zhǔn)

屏幕玻璃膜厚測得準(zhǔn)嗎？——我們還試了貼膜 ??

為了驗(yàn)證貼膜對測量的影響，我們還測試了市售鋼化膜在撕開保護(hù)膜前后的厚度變化。結(jié)果發(fā)現(xiàn)：

同一片貼膜，在撕膜前后的膜厚數(shù)據(jù)不同。我們初步判斷，這可能源于膠水層因形變/應(yīng)力釋放產(chǎn)生厚度差異——這再次印證了 SpecMetrix 對極薄層/膠層變化極為敏感。

測量邊界 & 探索意義

雖然我們尚無法判斷這層13μm涂層的具體成分，也無法通過成品手機(jī)屏幕了解涂層分布結(jié)構(gòu)，但可以確定的是：

SpecMetrix® 可以穩(wěn)定測得玻璃屏幕上的涂層厚度，并為消費(fèi)電子表面處理質(zhì)量控制提供可能的測量依據(jù)。

想進(jìn)一步了解其在玻璃蓋板、涂層功能膜、觸控模組、AR/AG/AF處理層的測試潛力？我們歡迎更多供應(yīng)鏈客戶提供中間產(chǎn)物樣品，一起推動“屏幕涂層測得準(zhǔn)"的未來落地。

測試結(jié)論：探索是開始，精度是答案

工業(yè)物理旗下 SpecMetrix® 涂層厚度分析系統(tǒng)憑借其非接觸、亞微米級、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)測量能力，為我們帶來了這次探索性驗(yàn)證的結(jié)果：

?? 手機(jī)屏幕表面確實(shí)存在平均厚度約13μm的涂層

?? 測量數(shù)據(jù)高度一致，干涉信號清晰穩(wěn)定

?? SpecMetrix 可適配實(shí)驗(yàn)室快速驗(yàn)證、研發(fā)支持及未來生產(chǎn)質(zhì)量閉環(huán)應(yīng)用

? 想測您你的材料嗎？

我們歡迎更多電子顯示行業(yè)、玻璃蓋板工藝、功能性涂層領(lǐng)域的客戶來挑戰(zhàn)SpecMetrix的極限測量能力。

?? 工業(yè)物理中國總部位于上海浦東，并在香港設(shè)有亞太技術(shù)與服務(wù)中心，可提供現(xiàn)場演示、樣品寄測及應(yīng)用方案研討。歡迎您到訪交流或聯(lián)系試樣演示，共探涂層厚度檢測的更多可能！

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